In-circuit-test er en test av et kretskort som er bestykket med komponenter.

Testeren benytter en tilkoplingsprobe som er utformet som en spikerseng. Hver nål er fjærbelastet og de er montert på en felles plate. Kretskortet klemmes mot denne måleplaten med vakuum eller en ramme.

Testautomaten setter opp signal på inngangene til den komponenten som skal testes og tar imot resultat fra utgangene. Disse sammenlignes med forventet resultat som er lagret i testeren. Denne fasiten er vanligvis generert fra simulering. Den kan også være basert på innsamlete data under test av et kretskort som man vet virker.

  • Forbindelsestest - At signallinjene på kortet er hele.
  • Kortslutningstest - Om det er kortslutning mellom signallinjer.
  • Komponentverdier - At komponentene som er montert på kortet har riktig verdi (resistanser, kondensatorer, spoler).
  • Komponentplassering - At komponentene er plassert på riktig sted og med riktig orientering.
  • Analoge funksjoner - At de analoge funksjonene virker. Eks: oscillatorer og operasjonsforsterkere.
  • Digitale funksjoner - At de digitale komponentene virker som forutsatt.
  • Boundary scan - Boundary-scanbaserte tester.
  • Konfigurering - Konfigureringsdata for FPGA og Flash-hukommelse legges inn.

Signallederne på et kretskort er så smale at det ikke er plass til en testprobe. Typisk diameter på en testprobe er 1,91 til 2,54 mm mens lederbredden gjerne er ca 0,1 mm. Dette kompenseres ved å legge inn spesielle testområder på kretskortet.

Kretskortet må være plant mens det klemmes mot testprobene for å gi god kontakt på alle tilkoplingspunktene.

In-circuit-test er raskere enn en funksjonstest fordi den deler opp kretskortet i mindre enheter som testes individuelt.

Foreslå endringer i tekst

Foreslå bilder til artikkelen

Kommentarer

Har du spørsmål om artikkelen? Skriv her, så får du svar fra fagansvarlig eller redaktør.

Du må være logget inn for å kommentere.