EXAFS, velegnet teknikk for å kartlegge lokal struktur rundt en bestemt type atom i et materiale (krystallinsk, amorft, væske). Metoden krever høy intensitet fra røntgenkilde hvor bølgelengden kan varieres. En synkrotron benyttes gjerne som strålingskilde.
Kommentarer
Har du spørsmål om artikkelen? Skriv her, så får du svar fra fagansvarlig eller redaktør.
Du må være logget inn for å kommentere.