EXAFS, velegnet teknikk for å kartlegge lokal struktur rundt en bestemt type atom i et materiale (krystallinsk, amorft, væske). Metoden krever høy intensitet fra røntgenkilde hvor bølgelengden kan varieres. En synkrotron benyttes gjerne som strålingskilde.

Foreslå endringer i tekst

Foreslå bilder til artikkelen

Kommentarer

Har du spørsmål til artikkelen? Skriv her, så får du svar fra fagansvarlig eller redaktør.

Du må være logget inn for å kommentere.