EXAFS, velegnet teknikk for å kartlegge lokal struktur rundt en bestemt type atom i et materiale (krystallinsk, amorft, væske). Metoden krever høy intensitet fra røntgenkilde hvor bølgelengden kan varieres. En synkrotron benyttes gjerne som strålingskilde.

Foreslå endringer i tekst

Foreslå bilder til artikkelen

Kommentarer

Har du spørsmål om eller kommentarer til artikkelen?

Kommentaren din vil bli publisert under artikkelen, og fagansvarlig eller redaktør vil svare når de har mulighet.

Du må være logget inn for å kommentere.