Feltemisjonsmikroskop, instrument til avbildning av detaljer i overflaten av et elektrisk ledende stoff ved utnyttelse av feltemisjon. Overflaten av stoffet er en nær halvkuleformet spiss, og emitterte elektroner gir et direkte projisert bilde på en fluorescerende skjerm. Krystallstrukturen i overflaten vises fordi elektronene ikke emitteres like lett fra ulike krystallplan. Bildet kan også vise f.eks. minimale mengder adsorbert gass.
En variant av feltemisjonsmikroskop er feltionemikroskopet, der spissen er anode og bildet frembringes av gassioner, spesielt heliumioner, dannet ved spissoverflaten etter at litt gass er tilført. På denne måte kan bildet bli så detaljert at de enkelte atomer fremkommer. Feltemisjonsmikroskop brukes for å undersøke gitterstrukturer, gitterfeil, adsorpsjon av gasser i overflaten m.m. Feltemisjonsmikroskopet ble oppfunnet av E. W. Müller i 1937.
Kommentarer
Har du spørsmål om eller kommentarer til artikkelen?
Kommentaren din vil bli publisert under artikkelen, og fagansvarlig eller redaktør vil svare når de har mulighet.
Du må være logget inn for å kommentere.